高照度、高均一、コンパクト筐体を実現したストレート擬似同軸落射照明

ハーフミラーを用いてカメラ軸に対し直交する軸で照射可能。
IFVAに比べて高さ方向のスペースが削減でき、省スペース化を実現。
正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。
基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。