高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明

ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。

正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。

基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。